2024年4月8-11日，一年一度化合物半導體行業盛會——2024九峰山論壇暨中國國際化合物半導體產業博覽會（簡稱“JFSC＆CSE”）將于武漢光谷科技會展中心舉辦。和創聯合科技（北京）有限公司將攜新品亮相本屆盛會，誠邀業界同仁蒞臨A208展臺參觀、交流合作。

本屆CSE博覽會由第三代半導體產業技術創新戰略聯盟、九峰山實驗室共同主辦，以“聚勢賦能 共赴未來”為主題，將匯集全球頂尖的化合物半導體制造技術專家、行業領袖和創新者，采用“示范展示+前沿論壇+技術與商貿交流”的形式，為產業鏈的升階發展搭建供需精準對接平臺，助力企業高效、強力拓展目標客戶資源，加速驅動中國化合物半導體產業鏈的完善和升級。

CSE作為2024年首場國際化合物半導體產業博覽會得到了多方力量的大力支持，三大主題展區，六大領域，將集中展示各鏈條關鍵環節的新技術、新產品、新服務，將打造化合物半導體領域的標桿性展會。助力打造全球化合物半導體平臺、技術、產業的燈塔級盛會，集中展示化合物半導體上下游全產業鏈產品，搭建企業發布年度新產品新技術的首選平臺，支撐產業鏈及中部地區建設具有全球影響力的萬億級光電子信息產業集群。

和創聯合科技（北京）有限公司注冊在中關村高新技術產業實驗區，是國家級高新技術企業，具備專業研發團隊，為材料的制備和極端環境性能評估、第三代以及先進半導體制程測試、高速互聯及信號完整性的仿真閉環驗證、數據的智能管理分析，提供精密自主設備、敏捷系統集成、智慧數據軟件的一站式交鑰匙技術服務商。我們持續在材料測量上深耕并不斷加大投入，秉承“讓測量更精確”的理念不斷推陳出新，不斷推出新的產品應對客戶的測試挑戰，公司氛圍活躍、是一群敢于向難題發起挑戰的伙伴，堅持團隊作戰，建立適應自己發展的研發體系，讓人才充分發揮、賦能，期待與您的合作共贏！ 

產品介紹

晶圓級化合物半導體測量整體解決方案

新型TESLA200專為晶圓級IGBT/功率MOSFET（GaN，SiC，Si）器件測量而設計。該系統經過精心設計，可提供高達3kV（三軸）/10kV（同軸）和200A（標準）/600A（大電流）測量的準確數據。具有下一代測量功能，包括防電弧設計，自動測量以及對工程探針和量產探卡的支持。Tesla200可以全自動完成薄片/翹曲片/Taiko片在完整溫度范圍（-55℃只300℃）內的測量。一套系統可以滿足從研發到量產的所有晶圓級功率測試需求。

TESLA200還支持新的應用，可用于具有挑戰性的高功率測量，例如靜態靜態HV測試（高達400°C時低漏電），以及動態功率測試（例如UIS），使用新的超低殘留電容和電感的高低溫載物臺和常溫載物臺。

新型TESLA200具有半自動和全自動模型，具有可擴展性和現場升級性，可以滿足任何預算要求。該系統是在單個或大量晶片上盡快收集高精度測量數據的理想選擇，可用于研發，器件表征/建?；蛄慨a應用。

Tesla200植入AttoGuard® and MicroChamber®專利技術，明顯提升了低漏電和小電容的測試能力。與FormFactor FemtoGuard™ 高低溫載物臺技術相結合，Tesla200可以提供超低噪聲，完全保護和屏蔽的測試環境。再結合MicroVac™技術，保證低接觸阻抗，薄片測量。

為了確保在高壓測量過程中的最大安全性，TESLA200晶圓上功率半導體探測系統采用了TUV認證的安全互鎖系統，并集成了符合人體工程學的透明外殼。 TESLA200具有先進的200毫米快速工作臺，自動晶圓裝載器和薄晶圓處理能力，可為科學家，研發/測試工程師或生產操作員提供快速完成工作所需的一切。和創聯合科技可基于Tesla平臺提供在片動態測試探卡以及防止打火的氟化液自動滴液裝置，幫助用戶更佳的實現功率半導體精確表征。

產品特點

l 高電壓/電流探針：高達 10,000 V DC / 600 A 的晶圓上功率器件特性分析，減少了探針和器件在高達 20 A DC 電流和 300 A 脈沖電流下遭受毀壞的情況，增高了隔離電阻和介電強度，以在高電壓 (3,000 V) 條件下提供完整的三軸能力，從而完成低漏電測量。

l 高壓防電弧探針卡：晶圓上功率器件的特性高達10,000 V DC，安全便捷的集成套件，可支持TIPS高壓防電弧探針卡。

l 鍍金的 TESLA 高功率 MicroVac™ 載物臺：可防止薄晶圓片發生卷曲和折斷，高級MicroVac卡盤晶圓和卡盤之間的最小接觸表面，在高電流條件下可提供準確的 Rds(on) 測量，在高溫條件下能完成準確的 UIS 測量。

l 操作安全：具有透明外殼的安全聯鎖系統，用于保證器件測量期間操作人員的安全，100%可拉出式載物臺保證簡單、安全的上下片操作。

l 無縫集成：提供了使用方便的連接套件，用于與來自 Keysight Technologies 和主要供應商的功率器件分析儀實現簡單和安全的系統集成，Velox 與分析儀/測量軟件之間的無縫集成。

l 高低溫測試：ATT可靠、優異性能溫控系統，只加熱或-60℃到300℃全溫度范圍靈活選擇，與其他系統相比，CDA消耗降低25%（300L/min），溫度遷移效率不受影響，溫度遷移效率比市場上其他系統快15%，MicroVacTM和FemtoGuradTM專利技術，提供超低的測量噪聲和可控的漏電流，低殘余電容確保重復先進測量的精度和速度，隨著用戶需求的變化做現場升級。

l Velox 探針臺控制軟件：以用戶為中心的設計最大程度地減少了培訓成本并提高了效率，Windows 10兼容性可通過最先進的硬件實現最高性能和安全操作，全面的對齊功能–從簡單的晶圓對齊和對位到先進的自動化半導體測量，實現變溫條件下自動探針與pad對準，為經驗不足的用戶簡化操作流程：工作流程指南和精簡的用戶圖形界面幫助降低培訓成本，自動上片裝置集成–簡單創建工作流程和程序，無需額外的軟件，VeloxPro選件：符合SEMI E95的測試執行軟件，可簡化操作和整個晶圓測試周期的安全自動測量。

功率器件參數分析儀系統

功率器件靜態參數的測量，可通過Keysight B1505A和Keysight B1506A實現。測量IV、CV、脈沖等應用，在高壓、大電流、大功率下的表征。Keysight B1505A 功率器件分析儀是一款能夠表征大功率器件（確定配置好合適的選件，從亞皮安到 10 kV / 1500 A）的一體化解決方案，多適用于高校/研究所進行測試。Keysight B1506A 功率器件分析儀/曲線追蹤儀是一款用于電路設計的綜合解決方案（3 kV/1500 A 的寬廣工作范圍），可幫助電力電子電路設計人員選擇適合自身應用的功率器件，讓其電力電子產品發揮最大價值，多適用于大規模的批量生產中。

和創聯合科技在對Keysight產品提供技術支持的基礎上，提供完整的晶圓級/封裝測試系統，在片智能軟件包含權限管理模塊，設備管理模塊、測量參數模塊、數據處理分析模塊，可滿足功率器件、硅光、射頻應用。同時為您提供各種封裝標準的夾具，適配您需求的各種主要封裝類型，輔助您完成測試。此外還有高低溫測試夾具可供選擇。

產品特點

l 高達從亞皮安到 10 kV / 1500 A的電壓/電流范圍

l 一體化器件表征分析儀支持 IV、CV、脈沖/動態 IV 等測量功能

l 窄 IV 脈沖寬度（最窄 10 μs）可防止器件自發熱，更準確地測試器件實際性能

l 示波器視圖（時域視圖）可以監測實際電壓/電流脈沖波形，以便進行準確測量

l B1505A 還支持功率器件的片上測試，無需事先封裝器件，這個功能可以顯著縮短周轉時間

l 和創聯合科技提供高階智能軟件產品，幫助用戶更智能的實現量測

l 和創聯合科技提供適配各種封裝類型的夾具，支持定制

l 和創聯合科技提供變溫測試系統

【企業聯系方式】

企業名稱：和創聯合科技（北京）有限公司

企業官網：www.hisuntest.com
       聯系人：葉女士

聯系電話：010-82207155
       郵箱：info@hisuntest.com 

公司地址：北京海淀中關村東路18號財智國際大廈A座1612

值此之際，我們誠邀業界同仁共聚本屆盛會，蒞臨展位現場參觀交流、洽談合作。

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