半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)網(wǎng)訊：11月6日，第三代半導(dǎo)體功率器件及封測(cè)技術(shù)峰會(huì)在深圳會(huì)展中心成功召開(kāi)。國(guó)內(nèi)知名的集成電路產(chǎn)業(yè)專(zhuān)業(yè)第三方檢測(cè)技術(shù)服務(wù)機(jī)構(gòu)——蘇試宜特檢測(cè)技術(shù)股份有限公司蔡甦谷處長(zhǎng)出席論壇并分享主題報(bào)告。

本次會(huì)議由半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)網(wǎng)、第三代半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)、博聞創(chuàng)意會(huì)展（深圳）有限公司主辦，蘇試宜特檢測(cè)技術(shù)股份有限公司、全國(guó) LED 產(chǎn)業(yè)產(chǎn)教融合（東莞）職業(yè)教育集團(tuán)支持協(xié)辦，會(huì)上來(lái)自南方科技大學(xué)、深圳大學(xué)、深圳清華大學(xué)研究院、英飛凌、蘇試宜特、譽(yù)鴻錦電子、基本半導(dǎo)體、泰克科技等專(zhuān)家學(xué)者企業(yè)代表圍繞碳化硅、氮化鎵功率器件模塊封裝技術(shù)，芯片先進(jìn)封裝之失效分析、功率器件的性能表征和可靠性測(cè)試等主題展開(kāi)研討交流。

蔡甦谷

蘇試宜特檢測(cè)技術(shù)股份有限公司處長(zhǎng)

會(huì)上，蘇試宜特檢測(cè)技術(shù)股份有限公司處長(zhǎng)蔡甦谷分享了《芯片先進(jìn)封裝之失效分析與應(yīng)用》主題報(bào)告。他介紹，先進(jìn)封裝失效分析工具，失效分析與應(yīng)用等方面展開(kāi)詳細(xì)介紹。他表示傳統(tǒng)封裝分析工具有超聲波掃描、2D X射線檢測(cè)、機(jī)械切片研磨、離子束剖面研磨、掃描電鏡、2D/3D 光學(xué)顯微鏡等，先進(jìn)封裝分析工具包括熱點(diǎn)偵測(cè)微光顯微鏡、3D X射線檢測(cè)、超聲波切割機(jī)、雙束可聚焦離子束、雙束電漿離子束等。隨后他結(jié)合實(shí)效分析案例及應(yīng)用進(jìn)行了詳細(xì)介紹。

蘇試宜特檢測(cè)技術(shù)股份有限公司蓋集成電路驗(yàn)證檢測(cè)、數(shù)據(jù)報(bào)告分析以及科技咨詢(xún)服務(wù)于一體的高科技企業(yè)。蘇試宜特實(shí)驗(yàn)室和業(yè)務(wù)辦公室分布在上海、北京、深圳、廈門(mén)、成都、西安等產(chǎn)業(yè)鏈發(fā)達(dá)地區(qū)，服務(wù)行業(yè)跨越商業(yè)工業(yè) 汽車(chē)電子產(chǎn)業(yè)，其中不乏博世、高通、先端電子、三星電子等歐美日韓的IC產(chǎn)業(yè)龍頭，以及華為-海思、寒武紀(jì)、地平線、中芯國(guó)際、紫光同創(chuàng)、華大北斗、集創(chuàng)北方、匯頂、紫光展銳、京東方等國(guó)內(nèi)的行業(yè)翹楚。在半導(dǎo)體驗(yàn)證與分析產(chǎn)業(yè)擁有近20年的雄厚經(jīng)驗(yàn)，作為“集成電路產(chǎn)業(yè)供應(yīng)鏈專(zhuān)家醫(yī)院”蜚聲業(yè)內(nèi)。

嘉賓簡(jiǎn)介：蔡甦谷，蘇試宜特檢測(cè)技術(shù)股份有限公司處長(zhǎng)，從事IC器件、光電器件、 IC封裝、板材板級(jí)等集成電路上中下游產(chǎn)業(yè)失效分析驗(yàn)證領(lǐng)域18年，提供失效分析驗(yàn)證服務(wù)，及解決客戶(hù)產(chǎn)品從設(shè)計(jì)端至市場(chǎng)端所遇之問(wèn)題。