
隨著芯片尺寸不斷縮小,這就要求器件和材料的尺寸不斷減小,而器件的長寬比不斷增大,減低了使用材料的厚度,使之至幾個納米數(shù)量級。特別是當芯片制造工藝水平進入5納米節(jié)點以后,如何延續(xù)摩爾定律已成為半導(dǎo)體行業(yè)的一大難題。
2007年底,美國Intel公司推出了基于45納米節(jié)點技術(shù)的酷睿處理器,首次將ALD技術(shù)沉積的高介電常數(shù)材料(high-?)和金屬柵組合引入到集成電路芯片制造中,順利將摩爾定律延續(xù)至當下最先進的5納米鰭式晶體管(FinFET)工藝制程,并將繼續(xù)支撐集成電路制造技術(shù)延續(xù)到3納米和2納米的全環(huán)繞柵極晶體管(Gate-All-Around GAAFET)技術(shù)。
近年來,原子層刻蝕(Atomic Layer Etching,ALE)及原子層沉積(Atomic Layer Deposition,ALD)技術(shù)的不斷發(fā)展,使得半導(dǎo)體材料和器件的新功能和新應(yīng)用成為可能。ALD技術(shù)的誕生最早可以追溯到20世紀六、七十年代,自2001年國際半導(dǎo)體協(xié)會將ALD技術(shù)列入與微電子工藝兼容的候選技術(shù)以來,其發(fā)展勢頭強勁,受到了廣泛關(guān)注。
ALD技術(shù)
ALD技術(shù)是一種在襯底表面以單原子層為單位逐層生長薄膜的技術(shù),這種技術(shù)與化學氣相沉積(CVD)有相似之處,即將多種不同的化學前驅(qū)體源以氣態(tài)通入反應(yīng)腔,在一定的溫度下發(fā)生化學反應(yīng),生成所需的薄膜材料。但其生長過程于CVD有明顯區(qū)別,ALD生長過程是將參與反應(yīng)的前驅(qū)體源交替通入反應(yīng)腔,使其分別在基底表面發(fā)生自限制的化學反應(yīng),每通入一次前驅(qū)體源僅能在基底表面生長一層目標薄膜材料的原子。ALD技術(shù)的這種獨特的生長機理,使其可以在大面積、復(fù)雜形貌的基底表面上生長出均勻、致密、無針孔、高保形性的薄膜,可以在原子層尺度上精確控制所需薄膜的厚度,并擁有較高的工藝穩(wěn)定性和可重復(fù)性。基于這些特殊的優(yōu)勢,ALD技術(shù)迅速被工業(yè)界采用并成為了生長半導(dǎo)體材料鈍化層、柵介質(zhì)層和銅擴散阻擋層的主流工藝。
ALE技術(shù)
ALE技術(shù)是將傳統(tǒng)的連續(xù)刻蝕工藝結(jié)合ALD自限制逐層反應(yīng)機理而形成的一種新興的刻蝕技術(shù)。與ALD類似,ALE也是分步進行的,即先通入反應(yīng)物與薄膜表面原子反應(yīng),弱化表面單層原子與薄膜之間的連接鍵,然后通入等離子體使表面的改性分子脫附,露出薄膜材料的下一層原子,兩步循環(huán)進行,每個周期剝離表面的一層原子。ALE的反應(yīng)機理具備ALD工藝的自限制性,即表面反應(yīng)一旦飽和,反應(yīng)將不會繼續(xù)進行,這使其具有很多類似于ALD的優(yōu)點,其刻蝕精度、平整度、隨形性、工藝穩(wěn)定性和可重復(fù)性遠勝于連續(xù)刻蝕,并且ALE刻蝕之后的材料表面依然平整完好。除了能夠提供精準刻蝕的光滑表面之外,ALE還有一項重要優(yōu)勢:若采用各向同性的改性和脫附步驟,ALE方法能夠?qū)崿F(xiàn)各向同性刻蝕,可對復(fù)雜形貌的材料表面執(zhí)行均勻、一致的刻蝕。
然而,由于柵氧層對場效應(yīng)晶體管(MOSFET)性能的直接影響,這道工藝制程對ALD設(shè)備的要求極高,全球范圍內(nèi)也只有極少數(shù)國外的知名半導(dǎo)體設(shè)備公司能夠提供滿足此工藝要求的ALD設(shè)備,此項技術(shù)因此也處于被絕對壟斷的狀態(tài)。尤其是對于起步較晚的中國半導(dǎo)體芯片制造,嚴格把控的技術(shù)壁壘使得ALD設(shè)備成為阻礙中國芯片技術(shù)進步的重要阻礙之一。
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